在工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制中，精確測(cè)量鍍層厚度至關(guān)重要。鍍層測(cè)厚儀作為一種高精度的測(cè)量工具，能準(zhǔn)確快速地測(cè)量各種材料表面上的涂層厚度。以下是使用鍍層測(cè)厚儀測(cè)量鍍層厚度的基本步驟：
利用測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁的覆層而流入鐵磁性金屬基體的磁通量的大小來(lái)確定鍍層的厚度。適合測(cè)量鋼鐵等鐵磁性金屬基體上的非磁性金屬鍍層，如涂料、清漆、搪瓷、塑料、橡膠覆層，鍍鉻、鍍鋅、鍍鎘、鍍銅層等有色金屬電鍍層以及各種防腐涂層。
通過(guò)高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體越近，則渦流愈大，反射阻抗能力越大。這個(gè)反饋?zhàn)饔帽碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。
除了上述的磁性和渦流測(cè)厚法，還有楔切法，光學(xué)法（如輪廓尺寸測(cè)量法，雙光束顯微鏡法），電解法（如陽(yáng)極溶解庫(kù)倫法）、金相法、化學(xué)法（點(diǎn)滴法，溶解稱重法，計(jì)時(shí)液流法），機(jī)械法（如稱重法，厚度差測(cè)量法），X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法等多種鍍層厚度測(cè)量方式。其中電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。X射線和β射線法也屬于無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，測(cè)量范圍較小，X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。
在開始測(cè)量之前，需要先準(zhǔn)備好鍍層測(cè)厚儀，確保電池充足，儀器狀態(tài)良好。同時(shí)，需要了解待測(cè)鍍層的材質(zhì)、涂層類型以及基材的導(dǎo)電性能等基本信息。
為保證測(cè)量精度，需先對(duì)鍍層測(cè)厚儀進(jìn)行校準(zhǔn)。根據(jù)不同的測(cè)量原理，可能需要選擇不同的校準(zhǔn)方法。例如，對(duì)于磁感應(yīng)法測(cè)厚，需要使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校準(zhǔn)；而對(duì)于電渦流測(cè)厚，則可以使用已知涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試樣進(jìn)行校準(zhǔn)。
根據(jù)已知的涂層類型和基材的導(dǎo)電性能等信息，設(shè)置鍍層測(cè)厚儀的相關(guān)參數(shù)。這些參數(shù)包括涂層的導(dǎo)磁率、電導(dǎo)率等，以確保測(cè)量的準(zhǔn)確性。
在開始測(cè)量時(shí)，將測(cè)頭接觸到涂層表面，保持測(cè)頭與涂層表面平行。慢慢移動(dòng)測(cè)頭，使測(cè)頭與涂層表面完全接觸，此時(shí)儀器會(huì)顯示出涂層的厚度。為保證測(cè)量的準(zhǔn)確性，建議在同一位置進(jìn)行多次測(cè)量，并取平均值。
測(cè)量完成后，需要對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理和記錄。對(duì)于不同的涂層類型和基材，需要建立相應(yīng)的數(shù)據(jù)庫(kù)，以便快速對(duì)比和處理數(shù)據(jù)。根據(jù)實(shí)際需求，可以生成相應(yīng)的報(bào)告，例如涂層厚度分布圖、合格率等。
在實(shí)際應(yīng)用中，除了磁感應(yīng)法和電渦流法外，還有多種測(cè)量鍍層厚度的方法。例如，X射線熒光法可以用于測(cè)量金屬和非金屬基材上的涂層厚度；β射線反向散射法可以用于測(cè)量薄膜厚度；以及利用原子力顯微鏡(AFM)和掃描隧道顯微鏡(STM)等高精度儀器進(jìn)行微觀尺度的涂層厚度測(cè)量。
使用鍍層測(cè)厚儀測(cè)量鍍層厚度是一個(gè)相對(duì)簡(jiǎn)單的過(guò)程，但要獲得準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果，需要具備一定的操作技巧和經(jīng)驗(yàn)。在實(shí)際應(yīng)用中，應(yīng)根據(jù)具體情況選擇合適的測(cè)量方法和儀器，并嚴(yán)格按照操作步驟進(jìn)行測(cè)量。同時(shí)，為保證測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性，建議定期對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)和維護(hù)。
| 產(chǎn)品型號(hào) | YT8500 |
| 產(chǎn)品名稱 | 專業(yè)版分體兩用涂層測(cè)厚儀 |
| 特性 | YT系列涂層測(cè)厚儀是3nh公司制造的完全擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的國(guó)產(chǎn)涂層測(cè)厚儀，能快速、精準(zhǔn)的無(wú)損檢測(cè)各種涂覆在金屬基底上的涂層厚度。儀器完全符合ISO 2178、ISO 2360、GB/T 4956、GB/T 4957、ASTM B499等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的磁性法和渦流法測(cè)試原理。 儀器測(cè)量精準(zhǔn)、測(cè)試量程大、多種校正模式、多種測(cè)量模式、定位方便、功能強(qiáng)大，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)等表面工程檢測(cè)領(lǐng)域，是涂層表面處理行業(yè)的基本裝備。 Fe基探頭可檢測(cè)噴涂在各種磁性基體(比如鋼鐵)上的各種非磁性涂層厚度，例如鐵板的油漆層、噴粉層、涂瓷層、鍍鉻層、鍍銅層、鍍鋅層等。 NFe基探頭檢測(cè)噴涂在非磁性金屬基底（比如鋁、銅、黃銅、不銹鋼等）上所有絕緣涂層厚度，例如油漆層、噴粉層、涂瓷層等。 |
| 符合標(biāo)準(zhǔn) | ASTM B499,ASTM D1400，ASTM D709; ISO 2178,ISO 2360，ISO 2808; GB/T 4956,JB/T 8393 |
| 基體模式 | 鐵基/非鐵基 |
| 探頭形式 | 分體式 |
| 定位結(jié)構(gòu) | / |
| 分辨率 | 0.1μm |
| 測(cè)量范圍 | 0~5000μm |
| 測(cè)量精度 | 零點(diǎn)校正:±(3%H+1)μm； 兩點(diǎn)校正:±(1~3%H+1.5)μm； 注:H為樣品厚度 |
| 顯示屏 | IPS全彩屏, 1.14inch |
| 接口 | Type C USB;藍(lán)牙5.0；按鍵 |
| 存儲(chǔ)數(shù)據(jù) | 3500條，通過(guò)手機(jī)APP可擴(kuò)展海量存儲(chǔ) |
| 電池電量 | 鋰電池，充滿電單次可連續(xù)測(cè)試10000 |
| 測(cè)量模式 | 基礎(chǔ)模式、品管模式、連續(xù)模式、統(tǒng)計(jì)模式 |
| 最小測(cè)量尺寸 | 磁性：10×10mm； 非磁性：10×10mm |
| 最小測(cè)量厚度 | 磁性：0.2mm； 非磁性：0.05mm |
| 最小曲率 | 凸面半徑5mm；凹面半徑10mm |
| 顯示單位 | μm/mil |
| 尺寸 | 102×50×20mm(探頭?18x69) |
| 重量 | 80g |
| 工作溫度 | 0~40oC(10~90%RH無(wú)凝露) |
| 儲(chǔ)存溫度 | ?-10~50oC |
| 軟件支持 | 微信小程序,鴻蒙,Windows,Andriod,IOS |
| 標(biāo)準(zhǔn)附件 | 基體2塊(鐵基體,鋁基體),腕帶，擦拭布，USB數(shù)據(jù)線，定位片，校準(zhǔn)片 |
| 可選附件 | 打印機(jī)，5V-2A電源適配器 |
| 注： | 校準(zhǔn)片一套5片(厚度略有差異)，技術(shù)參數(shù)僅為參考，以實(shí)際銷售產(chǎn)品為準(zhǔn) |
BLF 保來(lái)發(fā)